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著者 (3件)：
資料名：
巻： 2019 号： ASICON ページ： 1-4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：202002279366381352
整理番号：20A0493498
シングルイベント多重過渡現象を考慮した回路レベルソフトエラー率評価手法【JST・京大機械翻訳】
Circuit-Level Soft Error Rate Evaluation Approach Considering Single-Event Multiple Transient
Zhang Xiaoyu
(College of Computer, National University of Defense Technology,Changsha,Hunan,China,410073)
,
Liang Bin
(College of Computer, National University of Defense Technology,Changsha,Hunan,China,410073)
,
Song Ruiqiang
(College of Computer, National University of Defense Technology,Changsha,Hunan,China,410073)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： ASICON ページ： 1-4 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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