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J-GLOBAL ID：202002284846749264 整理番号：20A0904630

暗号鍵の極低ビット誤り率のためのインタリーブセルミラーリングと自己適応分割を用いた28nm512kb隣接2T2R RRAM PUF【JST・京大機械翻訳】

A 28nm 512Kb adjacent 2T2R RRAM PUF with interleaved cell mirroring and self-adaptive splitting for extremely low bit error rate of cryptographic key

著者 (7件)：

Xue Xiaoyong

(ASIC and System State Key Laboratory, School of Microelectronics, Fudan University,China)

Yang Jianguo

(Key Laboratory of Microelectronics Devices and Integrated Technology, Institute of Microelectronics of the Chinese Academy of Sciences,China)

Zhang Yuejun

(School of Electrical Engineering and Computer Science, Ningbo University,Ningbo,China)

Wang Mingyu

(ASIC and System State Key Laboratory, School of Microelectronics, Fudan University,China)

Lv Hangbing

(Key Laboratory of Microelectronics Devices and Integrated Technology, Institute of Microelectronics of the Chinese Academy of Sciences,China)

Zeng Xiaoyang

(ASIC and System State Key Laboratory, School of Microelectronics, Fudan University,China)

Liu Ming

(Key Laboratory of Microelectronics Devices and Integrated Technology, Institute of Microelectronics of the Chinese Academy of Sciences,China)

資料名：

IEEE Conference Proceedings (IEEE Conference Proceedings)

巻： 2019 号： A-SSCC ページ： 29-32 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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