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著者 (4件)：
資料名：
巻： 2019 号： IMCEC ページ： 712-716 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：202002284978684307
整理番号：20A0495328
深層学習:工業製品の表面欠陥検出における優れた方法【JST・京大機械翻訳】
Deep Learning: Excellent Method at Surface Defect Detection of Industrial Products
Li Bijiang
(Guangxi University,School of Computer, Electronics and Information)
,
Zhang Xuejun
(Guangxi University,School of Computer, Electronics and Information)
,
Liang Chan
(Guangxi University,School of Computer, Electronics and Information)
,
Wei Tao
(Guangxi University,School of Computer, Electronics and Information)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019 号： IMCEC ページ： 712-716 発行年： 2019年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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