文献
J-GLOBAL ID:202002285239508814
整理番号:20A0963949
65nm CMOSにおける可視光ベースの質問による認証IC【JST・京大機械翻訳】
An Authentication IC with Visible Light Based Interrogation in 65nm CMOS
著者 (4件):
Lee Edward
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology,Atlanta,USA)
,
Rahman Nael Mizanur
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology,Atlanta,USA)
,
Krishna Chekuri Venkata Chaitanya
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology,Atlanta,USA)
,
Mukhopadhyay Saibal
(School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology,Atlanta,USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2020
号:
CICC
ページ:
1-4
発行年:
2020年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)