文献
J-GLOBAL ID:202002291787287813
整理番号:20A0819014
プラズマ誘起損傷に対する高信頼性背面照射ピクセル【JST・京大機械翻訳】
A Highly Reliable Back Side Illuminated Pixel against Plasma Induced Damage
著者 (8件):
Sacchettini Y.
(STMicroelectronics,France)
,
Carrere J.-P.
(STMicroelectronics,France)
,
Doyen C.
(STMicroelectronics,France)
,
Duru R.
(STMicroelectronics,France)
,
Courouble K.
(STMicroelectronics,France)
,
Ricq S.
(STMicroelectronics,France)
,
Goiffon V.
(Universite ́ de Toulouse,ISAE-SUPAERO,Toulouse,France)
,
Magnan P.
(Universite ́ de Toulouse,ISAE-SUPAERO,Toulouse,France)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2019
号:
IEDM
ページ:
16.5.1-16.5.4
発行年:
2019年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)