文献
J-GLOBAL ID:202102235991763917
整理番号:21A0132149
POSTのマルチサイクルテストにおける故障検出の劣化を克服するためのFF制御点挿入(FF-CPI)
FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST
著者 (8件):
Al-AWADHI Hanan T.
(Dept. of Computer Science, Ehime University)
,
AONO Tomoki
(Dept. of Computer Science, Ehime University)
,
WANG Senling
(Dept. of Computer Science, Ehime University)
,
HIGAMI Yoshinobu
(Dept. of Computer Science, Ehime University)
,
TAKAHASHI Hiroshi
(Dept. of Computer Science, Ehime University)
,
IWATA Hiroyuki
(Renesas Electronics Corporation)
,
MAEDA Yoichi
(Renesas Electronics Corporation)
,
MATSUSHIMA Jun
(Renesas Electronics Corporation)
資料名:
IEICE Transactions on Information and Systems (Web)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Web))
巻:
E103.D
号:
11
ページ:
2289-2301(J-STAGE)
発行年:
2020年
JST資料番号:
U0469A
ISSN:
1745-1361
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)