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J-GLOBAL ID:202102256197719063   整理番号:21A0153945

強度回折トモグラフィーによるモデルと学習に基づく計算3D位相顕微鏡法【JST・京大機械翻訳】

Model and learning-based computational 3D phase microscopy with intensity diffraction tomography
著者 (6件):
Matlock Alex
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
Xue Yujia
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
Li Yunzhe
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
Cheng Shiyi
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
Tahir Waleed
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
Tian Lei
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2021  号: Eusipco  ページ: 760-764  発行年: 2021年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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