文献
J-GLOBAL ID:202102256197719063
整理番号:21A0153945
強度回折トモグラフィーによるモデルと学習に基づく計算3D位相顕微鏡法【JST・京大機械翻訳】
Model and learning-based computational 3D phase microscopy with intensity diffraction tomography
著者 (6件):
Matlock Alex
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
,
Xue Yujia
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
,
Li Yunzhe
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
,
Cheng Shiyi
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
,
Tahir Waleed
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
,
Tian Lei
(Boston University,Electrical And Computer Engineering,Boston,MA,USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2021
号:
Eusipco
ページ:
760-764
発行年:
2021年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)