Sorry, this section is only available in Japanese.
著者 (6件)：
資料名：
巻： 10 号： 15 ページ： 5327 発行年： 2020年
JST資料番号： U7135A ISSN： 2076-3417 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： スイス (CHE) 言語： 英語 (EN)
前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：202102257758294431
整理番号：21A0577152
無接合FinFETにおけるランダム電信雑音を引き起こす単一荷電欠陥の物理的モデリングへの寄与【JST・京大機械翻訳】
Contribution to the Physical Modelling of Single Charged Defects Causing the Random Telegraph Noise in Junctionless FinFET
Atamuratov Atabek E.
(Department of Physics, Urgench State University, Kh.Olimjan str.,14, 220100 Urgench, Uzbekistan)
,
Khalilloev Mahkam M.
(Department of Physics, Urgench State University, Kh.Olimjan str.,14, 220100 Urgench, Uzbekistan)
,
Yusupov Ahmed
(Department of Electronics, Tashkent University of Information Technologies, A.Temur str.,108, 100200 Tashkent, Uzbekistan)
,
Garcia-Loureiro A. J.
(Department of Computational electronics, University of Santiago de Compostela, Praza do Obradoiro, 15782 Santiago de Compostela, Spain)
,
Chedjou Jean Chamberlain
(Department of Transportation informatics, University of Klagenfurt, 9020 Klagenfurt, Austria)
,
Kyandoghere Kyamakya
(Department of Transportation informatics, University of Klagenfurt, 9020 Klagenfurt, Austria)
資料名：
Applied Sciences (Web)
(Applied Sciences (Web))
巻： 10 号： 15 ページ： 5327 発行年： 2020年
JST資料番号： U7135A ISSN： 2076-3417 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： スイス (CHE) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。