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J-GLOBAL ID:200901052982271647   Update date: Nov. 05, 2024

Abukawa Tadashi

アブカワ タダシ | Abukawa Tadashi
Affiliation and department:
Job title: Professor
Homepage URL  (2): http://surfphys.tagen.tohoku.ac.jp/http://surfphys.tagen.tohoku.ac.jp/en/
Research field  (1): Semiconductors, optical and atomic physics
Research theme for competitive and other funds  (19):
  • 2008 - 現在 ストリーク反射高速電子回折法の開発と表面構造ダイナミクスの研究
  • 2002 - 現在 ワイゼンベルグ反射高速電子回折法の開発と表面界面構造の研究
  • 1998 - 現在 Surface structural analysis using correlated thermal diffuse scattering
  • 2017 - 2022 超圧縮センシングによるミリ秒X線トモグラフィ法の開発
  • 2014 - 2019 Surface/interface 3D atomic imaging by CTR scattering
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Papers (131):
  • Takami Tomohide, Nishiyama Hokuto, Watanabe Yu, Omi Haruna, Ohta Mizuki, Ono Manami, Watabe Minami, Miyashita Kazuho, Mitsui Taiga, Yoneda Rio, et al. Development of Multi-Functional Submicropipettes for Exploring Biomaterials. 工学院大学研究論叢. 2024. 61. 1. 19-30
  • Hajime Yamamoto, Takumi Nishikubo, Shintaro Kobayashi, Kazuki Takahashi, Masaki Azuma, Shogo Kawaguchi, Tadashi Abukawa. ZnVO3: an ilmenite-type vanadium oxide hosting robust V-V dimers. Dalton Transactions. 2024
  • Xiaoyu Liang, Wolfgang Voegeli, Hiroyuki Kudo, Etsuo Arakawa, Tetsuroh Shirasawa, Kentaro Kajiwara, Tadashi Abukawa, Wataru Yashiro. Sub-millisecond 4D X-ray tomography achieved with a multibeam X-ray imaging system. Applied Physics Express. 2023. 16. 7. 072001-072001
  • Tomohide Takami, Chie Ohtomo, Naoki Kaneko, Kyo Shibuya, Kazuho Miyashita, Mizuki Ohta, Rio Yoneda, Mamiko Ozawa, Hideyuki Magara, Shuichi Ogawa, et al. Argon Gas Flow Through Micro- and Nano-pipettes. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 2023. 21. 4. 257-261
  • Hisato Yamaguchi, Ryunosuke Yusa, Gaoxue Wang, Michael T. Pettes, Fangze Liu, Yasutaka Tsuda, Akitaka Yoshigoe, Tadashi Abukawa, Nathan A. Moody, Shuichi Ogawa. Work function lowering of LaB6 by monolayer hexagonal boron nitride coating for improved photo- and thermionic-cathodes. Applied Physics Letters. 2023. 122. 14. 141901-141901
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MISC (101):
  • 青山大晃, 虻川匡司. 反射高速電子回折法で複雑な表面構造をモデルフリーに決定. 日本物理学会誌. 2023. 78. 9. 536-541
  • Millisecond-order temporal-resolution synchrotron X-ray tomography. Journal of JSSRR. 2023. 36. 4. 167-175
  • 小川修一, 山田貴壽, 津田泰孝, 吉越章隆, 虻川匡司. ガスバリア特性評価のためのグラフェン用触媒金属膜の検討. 日本表面真空学会東北・北海道支部学術講演会講演予稿集. 2021. 2020 (CD-ROM)
  • 小川修一, 山田貴壽, 沖川侑揮, 増澤智昭, 津田泰孝, 吉越章隆, 虻川匡司. XPS Measurement of Trace Dopants in Bilayer Graphene using Active Shirley Method. 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2021. 82nd
  • 青山大晃, 内藤完, 中塚聡平, 小川修一, 虻川匡司, 江口豊明, 服部賢, 服部梓, 黒田理人. Si(551)および(15 17 3)表面の構造解析. 日本表面真空学会東北・北海道支部学術講演会講演予稿集. 2021. 2020 (CD-ROM)
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Books (2):
  • 現代表面科学シリーズ第2巻「表面科学の基礎」
    共立出版 2013
  • 表面物性工学ハンドブック第2版
    丸善株式会社 2007
Lectures and oral presentations  (255):
  • RHEEDによるSi(110)16x2高精度パターソン関数の作成
    (第23回東北大学多元物質科学研究所研究発表会 2023)
  • Spatial analytical surface structure mapping for three-dimensional micro-shaped Si by micro-beam reflection high-energy electron diffraction
    (Annual Meeting of the Japan Society of Vacuum and Surface Science 2023 2023)
  • RHEEDによるシリコン(110)16x2構造解析 I
    (日本物理学会第78回年次大会 2023)
  • 東北(秋田)からナノを照らす-光電子分光による表面分析-
    (令和5年度 日本素材物性学会年会 2023)
  • パターソンマップ手法による Si(110)3x2-Sb 表面構造の決定
    (令和4年度日本表面真空学会東北・北海道支部学術講演会 2023)
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Education (2):
  • - 1992 Tohoku University Graduate School, Division of Science Department of Physics
  • - 1987 Tohoku University Faculty of Science 物理学第二学科
Professional career (1):
  • 博士(理学) (Tohoku University)
Awards (3):
  • 2023/05 - Dissertation Awards 2022 Spatial Analytical Surface Structure Mapping for Three-dimensional Micro-shaped Si by Micro-beam Reflection High-energy Electron Diffraction
  • 2005/12 - 財団法人科学計測振興会 平成17年度科学計測振興会賞 相関熱散漫散乱電子回折表面構造解析の開発
  • 2000/11/30 - 日本表面科学会 日本表面科学会論文賞
Association Membership(s) (4):
The Japanese Society for Synchrotron Radiation Research ,  The Japan Society of Vacuum and Surface Science ,  The Physical Society of Japan ,  The Japan Society of Applied Physics
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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