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J-GLOBAL ID：200901087094332326   Update date: Jan. 30, 2024

Fujii Yoshikazu

フジイ ヨシカズ | Fujii Yoshikazu
Affiliation and department：
Kobe University Graduate School of Engineering Department of Mechanical Engineering

About Kobe University Graduate School of Engineering Department of Mechanical Engineering


Job title： Associate Professor
Research field  (1)： Mathematical physics and basic theory
Research keywords  (4)： 機器分析 ,  材料分析 ,  イオン・放射線物理 ,  X線・粒子線応用工学
Research theme for competitive and other funds  (11)：
  • 2018 - 2021 高精度界面構造解析のためのX線反射率法の改良の研究
  • 2001 - 2002 In-situ analysis of the growing surface by two dimensional detection of x-ray scattering at small glancing angle incidence
  • 2000 - 2001 ULTRAPRECISION MACHINING OF 3 DIMENSIONAL MICRO STRUCTURES BY APPLYING ELLIPTICAL VIBRATION CUTTING
  • 1999 - 2000 Real time analysis on the growing crystal surface by X-ray scattering at small glancing angle incidence
  • 1997 - 1998 In-situ observation of the crystal growth process by X-ray scattering at small glancing angle incidence
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Papers (70)：
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MISC (40)：
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Patents (2)：
  • X線反射率法による表面粗さ・界面粗さの2次元情報評価方法及び評価プログラム
  • X線反射率法を用いた積層体の層構造解析方法、装置及びプログラム
Books (4)：
  • Top 5 Contributions in Materials Science (Chapter 2: Recent Developments in the X-ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials)
    Avid Science 2019
  • X-Ray Scattering
    Nova Science Publishers, Inc. 2011
  • 表面・界面分析の基礎と応用
    日本表面科学会 2009
  • 表面・界面分析の基礎と応用
    日本表面科学会 2008
Lectures and oral presentations  (30)：
  • Liquid phase separation in Ti-based alloys
    (日本学術振興会合金状態図172委員会・第34回研究会 2018)
  • New investigation method on surface roughness correlation function with the use of X-ray reflectivity
    (11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’17 2017)
  • Microstructure of Ti-Nb-Ag Immiscible Alloys with Liquid Phase Separation
    (60th Memorial Symposium of the Japanese Society of Microscopy 2017)
  • Analysis of the Surface Roughness Correlation Function by X-ray Reflectivity
    (7th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces 2016)
  • Analysis of surface roughness correlation function by X-ray reflectivity
    (10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’15 2015)
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Education (1)：
  • - 1993 京都大学 大学院工学研究科博士後期課程物理工学専攻修了
Professional career (2)：
  • 工学修士 (京都大学)
  • 博士(工学) (京都大学)
Committee career (5)：
  • 日本真空協会 関西支部幹事
  • 応用物理学会 代議員
  • 日本表面科学会 ホームページ委員
  • 日本表面科学会 財政委員
  • 日本表面科学会 関西支部幹事
Association Membership(s) (8)：
日本分析化学会 ,  ナノ学会 ,  日本真空協会 ,  日本表面科学会 ,  日本放射光学会 ,  日本結晶学会 ,  日本物理学会 ,  応用物理学会
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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