Inoue Tomoo

イノウエトモオ | Inoue Tomoo

Affiliation and department：
Job title： Professor
Other affiliations (6)：

Hiroshima City University
Hiroshima City University Director, Career Center
Hiroshima City University
Hiroshima City University Others
Hiroshima City University

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Homepage URL (1)： http://www.cd.info.hiroshima-cu.ac.jp/~tomoo/

Research field (1)： Computer systems

Research keywords (6)： Cyber Physical System , Stochastic Computing , dependable computing , VLSI-CAD , Design & Testing of VLSI , Dependable Computing

Research theme for competitive and other funds (12)：

2015 - 2018 ディペンダブル・サイバーフィジカルシステムを指向した組込みLSIの動作合成法
2015 - 2016 広島県科学オリンピックセミナー
2015 - 2016 大学インスティテューショナル・リサーチに関する他大学の状況と実施に向けての課題
2013 - 2016 高大連携体験授業の実施と入試志願者数への影響に関する調査
2014 - 2015 広島県科学オリンピックセミナー

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Papers (103)：

Hideyuki Ichihara, Motoi Fukuda, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue. Transient Fault Tolerant State Assignment for Stochastic Computing Based on Linear Finite State Machine. IEICE Trans. Fundamentals, Vol. E103-A, No. 12, pp. 1464-1471, 2020. 2020. E103-A. 12. 1464-1471
Tsuyoshi Iwagaki, Sho Yuasa, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue. An empirical approach to RTL scan path design focusing on structural interpretation in logic synthesis. Proc. 3rd IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia '19). 2019. 55-60
Hideyuki Ichihara, Yuki Maeda, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue. State Encoding with Stochastic Numbers for Transient Fault Tolerant Linear Finite State Machines. IEEE Proc. of International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems. 2019
Tomoo Inoue, Kazunori Yukihiro, Hideyuki Ichihara. Extension of an Approximate Voting Scheme IDMR for Fail-Operational Systems. Digest of Papers 20th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '19). 2019
Sho Yuasa, Tsuyoshi Iwagaki, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue. Effective Utilization of Register-Transfer Paths Based on Enhancing Multiplexer Functions in RTL Scan Design. Digest of Papers 19th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '18). 2018

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MISC (1)：

細川利典, 井上智生. LSIのRTレベルにおけるテスト容易化設計技術. 電子情報通信学会情報・システムソサイエティ誌. 2004. 8. 4. 6-8

Patents (2)：

検査容易化設計方法
Method of design for testability and method of test sequence generation

Books (2)：

はかる×わかる半導体入門編(改訂版)
日経BPコンサルティング 2020
はかる×わかる半導体半導体テスト技術者検定3級問題集
日経BPコンサルティング 2014 ISBN:9784864430715

Lectures and oral presentations (1)：

システムLSI のディペンダビリティの最新動向
(第38回STARCアドバンスト講座高信頼化設計セミナー 2010)

Education (2)：

- 1990 Meiji University Graduate School, Division of Engineering 電気工学
- 1988 Meiji University Faculty of Engineering 電子通信工学科

Professional career (4)：

博士(工学) (明治大学)
Ph. D (Meiji University)
工学修士
M.E.

Work history (12)：

2020/04/01 - 2021/03/31 アドミッションセンターセンター長
2019/04/01 - 2021/03/31 副理事 (入学試験担当)
2015/04/01 - 2019/03/31 副理事 (入学試験・就職担当)
2014/04/01 - 2016/03/31 広島市立大学キャリアセンターセンター長
2013/04/01 - 2015/03/31 副理事 (入学試験・就職担当)

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Committee career (16)：

2019/04/01 - 2020/03/31 中国経済連合会人材育成専門部会分科会 1
2019/09 - 2020/03 広島大学 GSC(グローバルサイエンスキャンパス)広島コンソーシアム会議
2018/08 - 2019/08 一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会半導体テスト技術者検定課題検討委員会
2018/04/01 - 2019/03/31 中国経済連合会人材育成専門部会分科会 1 (学生の就業意識の向上)
2015 - 2019/03 広島大学グローバルサイエンスキャンパスアジア拠点広島コンソーシアム会議

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Awards (1)：

2005/07/21 - WRTLT 2004 Best Paper Award

Association Membership(s) (4)：

IEICE , 情報処理学会 , IEEE , IEEE Computer Society

※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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