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J-GLOBAL ID:200901043971582269   Update date: Sep. 06, 2022

Kiyono Satoshi

キヨノ サトシ | Kiyono Satoshi
Affiliation and department:
Job title: Professor
Research field  (1): Manufacturing and production engineering
Research keywords  (6): 光応用計測 ,  機上計測 ,  精密計測 ,  optical instrumentation ,  on-machine measurement ,  metrology
Research theme for competitive and other funds  (6):
  • 1996 - センサの自律校正法に関する研究
  • 1996 - Self-Calibration Methods of Sonsors
  • 1986 - 多自由度の位置・姿勢の精密検出
  • 1986 - Position Detection of Multi-Degrees of Freedom
  • 1981 - 表面形状の超精密絶対測定に関する研究
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MISC (315):
Patents (15):
  • Method And Apparatus For Angle Measurement Based On The Internal Reflection Effect
  • 干渉計を用いた形状測定法(Method of Profile Measurement by Interferometer)
  • 形状測定装置(Apparatus of Profile Measurement)
  • 移動物体の位置及び姿勢検出方法(Method of Potision Detection of Moving Object)
  • 干渉縞検出装置(Apparatus of Interference fringe detection)
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Books (4):
  • 次世代精密位置決め技術
    2000
  • 超精密計測がひらく世界
    1998
  • 清野 慧
    1997
  • 清野 慧
    1995
Works (8):
  • センサの自律校正方法
  • 干渉計を用いた形状測定法
  • 移動物体の位置及び姿勢検出方法
  • 干渉縞検出装置
  • Method of Self-Calibration of Sensors
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Professional career (1):
  • 工学博士 (京都大学)
Awards (11):
  • 2005 - ファナックFAロボット財団論文賞
  • 2004 - 精密工学会高城賞
  • 2004 - 日本機械学会東北支部技術賞
  • 2004 - 精密工学会賞(Award of JSPE)
  • 2004 - Award of Japan society for Precision Engineering
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Association Membership(s) (6):
光学会 ,  イフトム(International Federation for the Theory of Machines and Mechanisms) ,  アメリカ精密工学会(American Soceity for Precision Engineering) ,  設計工学会 ,  精密工学会 ,  機械学会
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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