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J-GLOBAL ID:200901051830157214   Update date: Feb. 01, 2024

Inoue Tomoyasu

イノウエ トモヤス | Inoue Tomoyasu
Affiliation and department:
Job title: Professor
Homepage URL  (1): http://www.iwakimu.ac.jp/dept/staff/inoue_tomoyasu.html
Research field  (2): Crystal engineering ,  Applied materials
Research keywords  (2): 半導体工学 ,  Semiconductor Technology
Research theme for competitive and other funds  (11):
  • 2014 - 2017 方位選択エピタキシによる複合面方位構造形成における異種方位領域間の完全分離技術
  • 2011 - 2013 Hybrid orientation structure formation by electron beam induced orientation selective epitaxial growth
  • 2008 - 2011 Study on two dimensional control of orientation selective epitaxial growth of oxide thin films
  • 2006 - 低速電子ビーム誘起によるシリコン基板上のCeO2薄膜の方位選択エピタキシャル成長
  • 2006 - Electorn Beam Induced Orientation Selective Epitaxial Growth of CeO2(100) Layers on Si(100) Substrates
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Papers (105):
MISC (74):
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Patents (7):
  • 半導体装置及びその製造方法
  • 半導体装置及びその製造方法
  • Semiconductor device and manufacturing method thereof
  • 半導体装置
  • 半導体装置の製造方法
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Books (22):
  • Developments in Hybrid Orientation Technology by Electron Beam Induced Orientation Selective Epitaxial Growth
    2015
  • Spatially Varied Orientation Selective Epitaxial Growth of (100) and (110) CeO<sub>2</sub> Layers on Si(100) Substrates using Absorbed Electron Imaging System
    2011
  • Oxide Thin Film Technology -Growth and Applications-
    Research Signpost Publishers Inc. Trivandrum India 2010
  • Recent Advances in Dielectric Materials
    Nova Science Publishers, New York 2009 ISBN:9781606922668
  • Orientation selective epitaxial growth by reactive dc magnetron sputtering with substrate bias -CeO2(100) and (110) layers on Si(100) substrates-
    Recent Res. Devel. Crystal Growth, 4 (2005), 251-268 2005
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Works (13):
  • 高温はんだ表面に形成される酸化膜厚さの測定
    1992 - 1993
  • Oxide Thin film thickness measuremets of heat-treated solders
    1992 - 1993
  • 日本国特許 半導体単結晶膜の製造方法:登録日1992年5月29日登録番号1669027
    1992 -
  • 日本国特許 真空内試料加熱装置 登録日1987年8月11日登録番号P1394374
    1988 -
  • United States Patent Method of forming a single crystal semiconductor layer from a non-single-crystalline material and apparatus for forming the same May 24,1988 Patent Number 4,746,803
    1988 -
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Education (4):
  • - 1971 Waseda University
  • - 1971 Waseda University Graduate School, Division of Science and Engineering
  • - 1969 Waseda University School of Science and Engineering
  • - 1969 Waseda University Faculty of Science and Engineering
Professional career (2):
  • PhD (Waseda University)
  • 工学修士 (早稲田大学)
Work history (5):
  • - 現在 いわき明星大学 科学技術学部科学技術学科 教授
  • 1992 - 2001 いわき明星大学理工学部電子工学科 教授
  • 2001 - - いわき明星大学理工学部電子情報学科 教授
  • 1987 - 1992 いわき明星大学理工学部電子工学科 助教授
  • 1971 - 1987 東京芝浦電気 (株) 総合研究所 研究職
Committee career (9):
  • 1994/01 - 現在 福島県 技術顧問
  • 1987/04 - 2008/07 マイクロエレクトロニクス研究機構 幹事
  • 2004/04 - 2006/03 電子情報通信学会 東北支部 評議員
  • 1998/04 - 2000/03 電子情報通信学会 東北支部 評議員
  • 1995/04 - 1999/03 応用物理学欧文誌刊行会 電子出版化ワーキンググループ
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Association Membership(s) (10):
Electrochemical Society ,  American Vacuum Society ,  Materials Research Society ,  American Physical Society ,  応用物理学会 ,  Electrochemical Society ,  Ameriacn Physical Society ,  Japan Society of Applied Physics ,  Materials Research Society ,  American Vacuum Society
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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