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J-GLOBAL ID:200901063809196186   Update date: Feb. 14, 2024

TOSHIHIKO SASAKI

TOSHIHIKO SASAKI
Affiliation and department:
Job title: Professor
Research field  (2): Material fabrication and microstructure control ,  Machine materials and mechanics
Research keywords  (1): Stress Analysis, Strength of Materials, Neutron Stress Analysis
Research theme for competitive and other funds  (8):
  • 2021 - 2026 Elucidation of signs of rolling contact fatigue in rails by Debye ring measured two-dimensionally with high accuracy
  • 2016 - 2020 SOI式超高速X線イメージングによるレールの初期転動接触疲労の実態解明
  • 2016 - 2017 一体型SOI検出器によるデバイリング計測及び残留応力・材料評価の高速高精度化
  • 2016 - 中性子デバイリングを利用したエリアディテクタ式中性子残留応力測定機構の開発
  • 2014 - 2015 軟X線用の背面反射回折環二次元イメージング機構の開発
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Papers (182):
  • R. Nishimura, S. Kishimoto, T. Sasaki, S. Mitsui, M. Shinya, Y. Arai, T. Miyoshi. “INTPIX4NA” - new integration-type silicon-on-insulator pixel detector for imaging application. Journal of Instrumentation. 2021. 16. 08. P08054-P08054
  • Masato OKADA, Yuta YOSHINO, Makoto NIKAWA, Kayoko YANAGI, Toshihiko SASAKI. On-machine surface finishing of aluminum injection mold by sliding burnishing process with active rotary tool. Transactions of the JSME (in Japanese). 2021. 87. 896. 21-00037
  • Tomohiro YAMAZAKI, Yuji SODA, Takuya YAMAOKA, Toshihiko SASAKI. Evaluation of residual stress on shot peened spring steel surface by X-ray cosα method. Transactions of the JSME (in Japanese). 2021. 87. 894. 20-00390
  • Tamaki SUZUKI, Teppei OKAWA, Stefanus HARJO, Toshihiko SASAKI. Residual stress evaluation by pulsed neutron stress measurement for cruciform welded joints treated with ultrasonic impact method. Transactions of the JSME (in Japanese). 2021. 87. 894. 20-00377
  • S. Mitsui, T. Sasaki, M. Shinya, Y. Arai, T. Miyoshi, R. Nishimura. X-ray metal material evaluation using an SOI pixel detector. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 2020. 979. 164376-164376
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MISC (108):
Patents (11):
  • 渦電流による金属製品の評価方法
  • 回折環分析方法および回折環分析装置
  • X線回折装置
  • 回折環計測装置
  • 回析環分析方法および回析環分析装置
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Books (9):
  • 非破壊検査工学叢書 非破壊検査の最前線
    社団法人 日本非破壊検査協会 2002
  • X線応力測定法標準ー鉄鋼編ー
    日本材料学会 2002
  • 応力・ひずみ測定標準用語
    日本非破壊検査協会 2001
  • 金属便覧(改訂6版)
    丸善 2000
  • X線応力測定法標準ーセラミックス編ー
    日本材料学会 2000
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Lectures and oral presentations  (270):
  • バニシング加工を施したステンレス鋼SUS316LのX線残留応力測定
    (日本金属学会・日本鉄鋼協会北陸信越支部連合講演会 2016)
  • X線回折環のフーリエ解析によるアルミニウム合金の応力測
    (日本金属学会・日本鉄鋼協会北陸信越支部連合講演会 2016)
  • 鉄道レールの転がり接触疲労に対するX 線評価
    (第53 回X 線材料強度に関する討論会 2016)
  • NTPIX4を用いたデバイリング計測及び残留応力・材料評価の高速高精度化
    (第7回SOI新学術領域研究会 2016)
  • 新X線技術による重要部品の残留応力・材料評価
    (第8回総合検査機器展セミナー 2016)
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Education (2):
  • 1980 - Tohoku University Graduate School, Division of Engineering
  • 1974 - 1978 Tohoku University
Professional career (2):
  • 博士(工学) (東北大学)
  • 修士(工学) (東北大学)
Work history (5):
  • 2007/04/01 - 2007- Kanazawa University College of Human Social Sciences
  • 2002/05/01 - 2007/03/31 2002-2007 Kanazawa University Faculty of Education
  • 1993/07/01 - 2002/04/30 1993-2002 Kanazawa University Faculty of Education
  • 1987/04/01 - 1993/03/31 1987-1993 Institute of Vocational Training Department of Industrial Mechanical Engi Lecturer
  • 1980/04/01 - 1987/03/31 1980-1987 Institute of Vocational Training, Research Assistant Department of Welding Research Assistant
Awards (10):
  • 2018/04 - 文部科学省 平成30年度科学技術分野の文部科学大臣表彰 科学技術賞(開発部門) 可搬式で高速高性能なX線応力測定装置の開発
  • 2015/02/06 - 日本材料学会 業績賞 二次元検出器方式のX線・中性子応力測定
  • 2013/06/04 - 日本非破壊検査協会 学術奨励賞 二次元検出器方式による現場適用が可能なX線応力測定
  • 2001/08/03 - International Center for Diffraction Data(ICDD) DenverX線国際会議 XRD Best Poster Award X-Ray Stress Measument of Surface Thin Layer by Means of Evanescent Wave with In-Plane Diffraction
  • 2000/08/03 - International Center for Diffraction Data(ICDD) DenverX線国際会議 XRD Best Poster Award Study on Fracture Analysis of (α+γ) Dual Phase Stainless Steel Using X-Ray Diffraction
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Association Membership(s) (2):
日本材料学会 ,  日本非破壊検査協会
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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