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J-GLOBAL ID：200901080261390843   Update date: Sep. 18, 2022

Tokura Hitoshi

トクラ ヒトシ | Tokura Hitoshi
Affiliation and department：
Tokyo Institute of Technology

About Tokyo Institute of Technology


Job title： Professor Emeritus
Research field  (2)： Manufacturing and production engineering ,  Thin-film surfaces and interfaces
Research theme for competitive and other funds  (6)：
  • Micro Texture Surface Forming
  • 電気・光をエネルギーとした微細加工の研究
  • Material Processing Assisted by Light Irradiation in Water
  • 機能性表面形状の創成
  • Nano-meter processing by using electrical or light energy
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MISC (101)：
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Books (4)：
  • ”表面機能”で差をつける-レーザ光による周期的微細溝の形成-
    機械と工具 2003
  • 化学加工
    生産加工の原理(分担),日刊工業新聞社 1998
  • ダイヤモンド電着ワイヤ工具のエンドレス化と切断性能
    硬脆材料の高能率・高精度スライシング加工(分担),アイビーシー 1995
  • スーパーコーティング硬質膜の機能と利用技術(ダイヤモンド膜の加工)
    大河出版(分担) 1992
Lectures and oral presentations  (59)：
  • Laser -induced Modification in Glasses by CW-Laser Backside Irradiation (CW-LBI Method): The Effect of Metal Absorbent
    (2009)
  • CWレーザ背面照射法(CW竏鱈BI)によるガラスの内部変質竏柱z収材金属の影響竏驤
    (精密工学会春期大会 2009)
  • Blasting of Affected Layer of Silicon Surface Sliced by Wire EDM
    (Advanced Materials Research 2009)
  • 連続発振レーザによるガラスの変質とその現象観察
    (レーザ協会誌 2009)
  • CWレーザ背面照射法によるガラスの内部変質 竏茶<Jニズムの検討竏驤
    (精密工学会秋期大会 2008)
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Education (1)：
  • - 1972 Tokyo Institute of Technology School of Engineering
Professional career (1)：
  • Doctor of Engineering
Work history (3)：
  • 1989 - 1996 Tokyo Institute of Technology
  • 1996 - Tokyo Institute of Technology
  • 1972 - 1989 Tokyo Institute of Technology
Committee career (4)：
  • 2005 - 2006 レーザ協会 理事
  • 2002 - 2004 精密工学会 監事、理事
  • 1997 - 2001 砥粒加工学会 理事
  • 1996 - 1996 日本機械学会 部門運営委員
Awards (3)：
  • 2005 - 精密工学会 技術賞
  • 2003 - 精密工学会賞
  • 1996 - 精密測定技術振興財団 第7回高城賞
Association Membership(s) (10)：
American Society for Precision Engineering ,  Material Research Society ,  精密工学会 ,  日本機械学会 ,  日本化学会 ,  砥粒加工学会 ,  レーザ協会 ,  応用物理学会 ,  Material Research Society ,  American Society for Precision Engineering
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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