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J-GLOBAL ID：200901090239947520
Update date: Jun. 11, 2024
Midoh Yoshihiro
ミドウ ヨシヒロ | Midoh Yoshihiro
Affiliation and department：
Job title：
Specially-appointed Associate Professor
Research field (7)：
Mathematical informatics
, Semiconductors, optical and atomic physics
, Nanostructure physics
, Medical systems
, Measurement engineering
, Intelligent informatics
, Perceptual information processing
Research keywords (5)：
Metrology
, Image Processing
, Defect Detection
, Electron Miscroscope
, Semiconductor manufacturing
Research theme for competitive and other funds (9)：
- 2023 - 2025 ナノスコピック微細半導体3D構造の知的センシングシステム
- 2019 - 2023 探索・分析する自然言語系AIシステムを用いた知見・教訓の利活用に関する研究
- 2016 - 2021 AIと大規模画像処理による電子顕微鏡法の技術革新
- 2012 - 2014 トモグラフィー電子顕微鏡用ソフトウェアの活用・普及促進
- 2009 - 2011 超LSI故障個所解析装置ソフトウェアの開発
- 2009 - 2011 トモグラフィー電子顕微鏡用のソフトウェアの開発
- 2009 - 2011 高速・高精度な超LSI故障個所解析装置用診断支援手法の開発
- 2005 - 2009 超LSI故障個所解析装置
- 2006 - 2007 生体・病理組織の三次元ナノ構造解析国産ソフトウェアの開発
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Papers (122)：
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Sujin Lee, Yoshihiro Midoh, Yuto Tomita, Takehiro Tamaoka, Mitsunari Auchi, Taisuke Sasaki, Yasukazu Murakami. Noise reduction of electron holography observations for a thin-foiled Nd-Fe-B specimen using the wavelet hidden Markov model. Applied Microscopy. 2024. 54. 1
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Masahiro Oya, Yosuke Okamoto, Shinichi Nakazawa, Kotaro Maruyama, Yuichiro Yamazaki, Shinji Murakami, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura. Utilization of active contour model with 3D-SEM simulation for see-through BSE image of high voltage SEM. Proc. SPIE 12955, Metrology, Inspection, and Process Control XXXVIII. 2024. 129550R
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Ryotaro Aso, Yoshihiro Midoh, Toshiaki Tanigaki, Yasukazu Murakami. High-precision charge analysis in a catalytic nanoparticle by electron holography. Microscopy. 2024. dfae018
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Rumi Kawashima, Kenji Matsushita, Kenji Mandai, Yuko Sugita, Tomohiko Maruo, Kiyohito Mizutani, Yoshihiro Midoh, Akiko Oguchi, Yasuhiro Murakawa, Kazuki Kuniyoshi, et al. Necl-1/CADM3 regulates cone synapse formation in the mouse retina. iScience. 2024. 109577-109577
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Kosuke Watahiki, Yoshihiro Midoh, Kazuya Okamoto. Disclosure Characteristics of Patent Information and Profitability in Advanced Semiconductor Materials. Journal of Japan Association for Management Systems. 2024. 40. 3. 227-234
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MISC (37)：
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御堂 義博, 中前 幸治, 品田 博之, 村上 恭和. ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去. 顕微鏡. 2020. 55. 2. 53-59
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Yoshihiro Midoh. Image analysis and abnormality detection using deep learning. 2019
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T. Tamaoka, K. Yamamoto, Y. Midoh, T. Tanigaki, M. Nakamura, M. Kawasaki, K. Nakamae, Y. Murakami. Noise reduction from electron hologram by using hidden Markov model. 2019
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Effect of variance stabilization on denoising in electron hologram with low SNR using wavelet-based hidden Markov models. 2018
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Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae. Improving SEM image quality using wavelet transform and convolutional neural networks. 2018
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Books (2)：
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日本学術振興会研究開発専門委員会 自律型・複合型AI先端計測の新しい価値創造 研究成果報告書
2021
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立体像可視化ソフトウェア「HawkC」の開発
エヌ・ティー・エス 2015 ISBN:9784860434281
Lectures and oral presentations (37)：
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Noise Reduction by Wavelet Hidden Markov Model Applied to Electron Holography Observations of Nd-Fe-B Magnets
(2024)
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Advanced contour extraction for multi-layer patterns in a high voltage SEM image
(2024)
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機械読唇による自然な日本語の発話を目指して
(第125回日本耳鼻咽喉科頭頸部外科学会総会・学術講演会 2024)
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計測システムとAI 活用 - 最先端計測の世界におけるAI の活用性について
(AI 活用型システム創成委員会・記念シンポジウム2024 2024)
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高加速SEMのシースルーBSE画像における高度な下層パターン輪郭抽出機能開発
(次世代リソグラフィ技術研究会第1回定例会 2024)
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Works (3)：
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Wavelet hidden Markov model denoising for electron holography
Yoshihiro Midoh 2022 - 現在
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トモグラフィー電子顕微鏡用のソフトウェア
御堂義博, 西竜治, 鎌倉快之, 井上雄紀, メディ・ヌリ・シラジ, 三浦順一郎 2015 - 2015
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めまい診断のための眼球運動解析システム
御堂義博, 今井貴夫, 関根和教, 武田憲昭, 猪原秀典, 中前幸治 2009 - 2009
Education (3)：
- 2003 - 2006 Osaka University Graduate School of Information Science and Technology Information Systems Engineering
- 2001 - 2003 Osaka University Graduate School, Division of Information Science Information Systems Engineering
- 1997 - 2001 Osaka University Faculty of Engineering
Professional career (1)：
- Master (Osaka University)
Work history (4)：
- 2021/11 - 現在 Osaka University Graduate School of Information Science and Technology Department of Information Systems Engineering Specially-appointed Associate Professor
- 2019/01 - 2021/10 Osaka University Institute for Open and Transdisciplinary Research Initiatives
- 2007/06 - 2021/10 Osaka University Graduate School of Information Science and Technology Department of Information Systems Engineering Assistant Professor
- 2006/04/01 - 2007/05/31 Osaka University Graduate School of Information Science and Technology Department of Information Systems Engineering Specially Appointed Researcher
Committee career (6)：
- 2024/03 - 現在 日本学術振興会 R026先端計測技術の将来設計委員会
- 2021/02 - 現在 日本学術振興会 AI活用型システム創成委員会
- 2019/09 - 現在 日本顕微鏡学会 顕微鏡計測インフォマティックス研究部会
- 2007/06 - 現在 ナノテスティング学会 事務局
- 2024/04 - 2024/07 DSAIH 2024: The 1st IEEE International Workshop on Data Science and Artificial Intelligence in Healthcare Program Committee
- 2018/04 - 2021/03 Japan Society for the Promotion of Science Value Creation of Autonomous- and Cooperative-Type Advanced Measurement using “AI”
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Awards (5)：
- 2023/05 - IEEE SSCS Kansai Chapter Academic Research Award
- 2022/11 - 日本経営システム学会 学生研究発表優秀賞 先端半導体材料における情報開示特性と収益性
- 2022/03 - Japan Aerospace Exploration Agency Certificate of Appreciation
- 2019/12 - ナノテスティング学会 第39回ナノテスティングシンポジウム若手奨励賞
- 2012/07 - 一般財団法人日本化学技術連盟 第42回(2012年度)信頼性・保全性シンポジウム奨励報文賞
Association Membership(s) (7)：
The Japanese Society of Microscopy
, Japan Association for Management Systems
, 応用物理学会
, Japan Society for Equilibrium Research
, The International Society for Optical Engineering (SPIE)
, The institute of Electronics, Information and Communication Engineers
, The Institute of NANO Testing (INANOT)
