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J-GLOBAL ID：200902002156698282   Reference number：88A0303576

Direct investigation of subsurface interface electronic strucuture by ballistic-electron-emission microscopy.

バリスティック電子放出顕微鏡による表面直下の界面の電子構造の直接研究

Author (2)： KAISER W J (California Inst. Technology, CA, USA) ,  BELL L D (California Inst. Technology, CA, USA)
Material： Physical Review Letters  (Phys Rev Lett)
Volume： 60  Issue： 14  Page： 1406-1409  Publication year： Apr. 04, 1988 
JST Material Number： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： Schottky barrier ,...
Semi thesaurus term： BEEM ,...

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JST classification (2)： 半導体-金属接触【’81~’92】  (BM03073E) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (4)： バリスティック電子放出顕微鏡 ,  界面 ,  電子構造 ,  研究