Art

J-GLOBAL ID：200902002205088738   Reference number：91A0020064

Imaging of dislocations using backscattered electrons in a scanning electron microscope.

走査電子顕微鏡内での後方散乱電子を用いた転位の観察

Author (4)： CZERNUSZKA J T (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  LONG N J (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  BOYES E D (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  HIRSCH P B (Univ. Oxford, Oxford, GBR)
Material： Philosophical Magazine Letters  (Philos Mag Letters)
Volume： 62  Issue： 4  Page： 227-232  Publication year： Oct. 1990 
JST Material Number： T0360A  ISSN： 0950-0839  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： silicon ,...

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JST classification (2)： Experimental techniques of observation of lattice defects  (BK12020U) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (5)： 走査電子顕微鏡 ,  後方散乱 ,  電子 ,  転位 ,  観察