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J-GLOBAL ID：200902003657242005   Reference number：91A0817327

Backscattered electron imaging for high resolution surface scanning electron microscopy with a new type YAG-detector.

新型YAG検出器を用いた高分解能表面走査電子顕微鏡観察のための後方散乱電子イメージング

Author (4)： WALTHER P (Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA) ,  AUTRATA R (Inst. Scientific Instruments, Czechoslovak Academy of Sciences, Brno, CSK) ,  CHEN Y (Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA) ,  PAWLEY J B (Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
Material： Scanning Microscopy  (Scanning Microsc)
Volume： 5  Issue： 2  Page： 301-310  Publication year： Jun. 1991 
JST Material Number： A0512C  ISSN： 0891-7035  CODEN： SCMIEU  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： electron microscopy ,...
Semi thesaurus term： cell organelle

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JST classification (1)： Microscopic methods of living organisms  (EA03050C)

Terms in the title (7)： YAG ,  検出器 ,  高分解能 ,  走査電子顕微鏡観察 ,  後方散乱 ,  電子 ,  イメージング