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J-GLOBAL ID：200902014425781130   Reference number：92A0261433

Design for testability: using scanpath techniques for path-delay test and measurement.

Author (2)： DERVISOGLU B I (Hewlett Packard, MA) ,  STONG G E (Hewlett Packard, CO)
Material： Proceedings. International Test Conference  (Proc Int Test Conf)
Volume： 1991  Page： 365-374  Publication year： 1991 
JST Material Number： E0211B  ISSN： 1089-3539  Document type： Proceedings
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (1)： DESIGN