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J-GLOBAL ID：200902017455602850   Reference number：92A0607941

Conductance Fluctuations and Chaotic Scattering in Ballistic Microstructures.

弾道性ミクロ構造におけるコンダクタンスゆらぎとカオス散乱

Author (5)： MARCUS C M (Harvard Univ., Massachusetts) ,  RIMBERG A J (Harvard Univ., Massachusetts) ,  WESTERVELT R M (Harvard Univ., Massachusetts) ,  HOPKINS P F (Univ. California, California) ,  GOSSARD A C (Univ. California, California)
Material： Physical Review Letters  (Phys Rev Lett)
Volume： 69  Issue： 3  Page： 506-509  Publication year： Jul. 20, 1992 
JST Material Number： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： electric resistance ,...
Semi thesaurus term： 弾導輸送 ,...

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JST classification (1)： 半導体-半導体接触【’81~’92】  (BM03072N)

Terms in the title (5)： 弾道 ,  ミクロ構造 ,  コンダクタンスゆらぎ ,  カオス ,  散乱