Art

J-GLOBAL ID：200902033670124697   Reference number：87A0394393

Atomic resolution with atomic force microscope.

原子間力顕微鏡を用いた原子分解能

Author (5)： BINNIG G (IBM Research Division, Rueschlikon, CHE) ,  GERBER CH (IBM Research Division, Rueschlikon, CHE) ,  STOLL E (IBM Research Division, Rueschlikon, CHE) ,  ALBRECHT T R (Stanford Univ., CA, USA) ,  QUATE C F (Stanford Univ., CA, USA)
Material： Europhysics Letters  (Europhys Lett)
Volume： 3  Issue： 12  Page： 1281-1286  Publication year： Jun. 15, 1987 
JST Material Number： D0701B  ISSN： 0295-5075  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： France (FRA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： electron microscopy ,...
Semi thesaurus term： graphite

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JST classification (2)： Surface structure of solids in general  (BK15010E) ,  Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Terms in the title (2)： 原子間力顕微鏡 ,  原子分解能