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J-GLOBAL ID：200902035637610910   Reference number：87A0212393

XPS measurement and analysis of polymer material surfaces.

X線光電子分光法による高分子材料表面の測定と解析

Author (2)： NAKAYAMA YOICHI (東レリサーチセ) ,  ISHITANI AKIRA (東レリサーチセ)
Material： 熱硬化性樹脂  (Journal of Thermosetting Plastics, Japan)
Volume： 8  Issue： 1  Page： 8-24  Publication year： Mar. 1987 
JST Material Number： Z0934A  ISSN： 0388-4384  CODEN： NKJUDH  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： X-ray photoelectron spectroscopy ,...
Semi thesaurus term： valence band

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JST classification (1)： Structure and morphology of polymer solids  (CG02022M)

Reference (58)：

• 1) 中山陽一, 高萩隆行, 添田房美, 石谷 炯, 東 信行, 国武豊喜 : 第35回高分子学会予稿集, III-13-16 (1986).
• 2) 二瓶好正 : ぶんせき, 9,628 (1984).
• 3) 石谷 炯 : 表面, 17, 26 (1979).
• 4) A. Dilks : in “Electron Spectroscopy Theory, Techniques and Applications”, Vol. 4, C. R. Brundle and A. D. Baker, eds. (Academic Press, 1981).
• 5) D. T. Clark : ACS Symp. Ser. (Am. Chem. Soc), 162,247 (1981). D. T. Clark : Pure & Appl. Chem., 54,415 (1982).

Terms in the title (3)： X線光電子分光法 ,  高分子材料 ,  解析