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J-GLOBAL ID：200902038993154007   Reference number：89A0180534

Statistical delay fault coverage and defect level for delay faults.

遅延故障に対する静的遅延故障カバレッジと欠陥レベル

Author (3)： PARK E S (Univ. Texas, TX, USA) ,  MERCER M R (Univ. Texas, TX, USA) ,  WILLIAMS T W (IBM Corp., CO, USA)
Material： Proceedings. International Test Conference  (Proc Int Test Conf)
Volume： 1988  Page： 492-499  Publication year： 1988 
JST Material Number： E0211B  ISSN： 1089-3539  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： logic circuit ,...
Semi thesaurus term： 故障カバレッジ

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JST classification (1)： Logic circuits  (NC05070B)

Terms in the title (4)： 遅延故障 ,  遅延 ,  故障カバレッジ ,  欠陥レベル