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J-GLOBAL ID：200902049350637240   Reference number：89A0227406

Evaluation of physical properties of thin films and material surfaces by attenuated total reflection technique.

全反射減衰法による薄膜・表面物性の評価

Author (2)： FUKUI MASUO (徳島大 工) ,  HARAGUCHI MASANOBU (徳島大 工)
Material： 日本物理学会誌
Volume： 43  Issue： 11  Page： 862-868  Publication year： Nov. 1988 
JST Material Number： F0221A  ISSN： 0029-0181  CODEN： NBGSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： ATR spectroscopy ,...

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JST classification (3)： Optical properties of condensed matter in general  (BM08010A) ,  Polaritons  (BM02140A) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Reference (20)：

• 1) Suface Polaritons, ed. V.M. Agranovich and A.A. Maradudin (North-Holland, Amsterdam, 1982).
• 2) Electromagnetic Surface Modes, ed. A.D. Boardman (John Wiley & Sons, New York, 1982).
• 3) 潮田資勝:物性15 (1974) 57.
• 4) 国府田隆夫,平林泉,十倉好紀:応用物理45 (1976) 1069.
• 5) 辻幹男:固体物理20 (1985) 1.

Terms in the title (4)： 全反射減衰法 ,  薄膜 ,  表面物性 ,  評価