Art

J-GLOBAL ID：200902052066128000   Reference number：93A0074745

Tip-sample interactions in the scanning tunneling microscope and their application to atom manipulation.

走査トンネル顕微鏡における探針とSi表面との相互作用およびその原子操作への応用

Author (6)： AONO MASAKAZU (理研) ,  KOBAYASHI ATARU (新技術事業団) ,  GREY F (新技術事業団) ,  UCHIDA HIROHISA (新技術事業団) ,  HUANG D H (新技術事業団) ,  YOSHINOBU JUN (理研)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 61  Issue： 12  Page： 1264-1268  Publication year： Dec. 1992 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： scanning tunneling microscope ,...
Semi thesaurus term： atomic manipulation

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JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Reference (19)：

• BINNING, G. Helvetica Phys. Acta. 1982, 55, 762
• BINNING, G. Surf. Sci. 1983, 126, 236
• BECKER, R. S. Nature. 1987, 325, 419
• EIGLER, D. M. Nature. 1990, 344, 524
• EIGLER, D. M. Nature. 1991, 352, 600

Terms in the title (6)： 走査トンネル顕微鏡 ,  探針 ,  Si ,  相互作用 ,  原子操作 ,  応用