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J-GLOBAL ID：200902060511838457   Reference number：81A0267753

Evaluation of inhomogeneous resistive layers by a four point method.

4端子法による不均一な抵抗性薄層の評価

Author (3)： FODOR G (Technical Univ. Budapest) ,  SZILAGYI M (Technical Univ. Budapest) ,  ZOMBORY L (Technical Univ. Budapest)
Material： Electrocomponent Science and Technology  (Electrocomponent Sci Technol)
Volume： 7  Issue： 4  Page： 211-216  Publication year： Mar. 1981 
JST Material Number： C0101C  ISSN： 0305-3091  CODEN： ECSTC5  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： electric resistance ,...
Semi thesaurus term： 四端子法

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JST classification (2)： Measuring methods and instruments of R,L,C,Q, and dielectric constant  (AD07030N) ,  Electronic recording,magnetic recording,optical recording  (NC06020F)

Terms in the title (4)： 4端子法 ,  抵抗性 ,  薄層 ,  評価