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J-GLOBAL ID：200902061991197380   Reference number：82A0394746

電界放射形走査電子顕微鏡内疲労試験装置と疲労き裂進展の直接連続観察

Author (5)： KIKUKAWA MAKOTO (大阪大工) ,  JIYONO MASAHIRO (大阪大工) ,  IWAHASHI MINORU (住友金属工業) ,  ICHIKAWA MITSUAKI (大阪大大学院) ,  UESUGI NOBUHIKO (大阪大大学院)
Material： 材料  (Journal of the Society of Materials Science, Japan)
Volume： 31  Issue： 346  Page： 669-674  Publication year： Jul. 1982 
JST Material Number： F0385A  ISSN： 0514-5163  CODEN： ZARYA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： scanning electron microscope ,...
Semi thesaurus term： fatigue crack

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JST classification (1)： Metallic materials  (HC05020S)

Reference (11)：

• 1) Dingley, D. J., Proc. 3rd. SEM Symp. IITRI, 329 (1970).
• 2) Ujiie, N., S. Kimoto, and Y. Kawasaki, Proc. 4th. SEM Symp. IITRI, 97 (1971).
• 3) Kromp, W., B. Weiss, and R. Sticken, Met. Trans., 4, 1167 (1973).
• 4) Alic, J. A., and R. Asimow, Met. Trans., 4, 915 (1972).
• 5) Neumann, P., Acta. Met., 22, 1155 (1974).

Terms in the title (4)： 電界放射形走査電子顕微鏡 ,  疲労試験装置 ,  疲労き裂進展 ,  観察