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J-GLOBAL ID：200902067005397706   Reference number：92A0062799

Measurement of spatial resolution of a double-sided AC-coupled microstrip detector.

両面AC結合マイクロストリップ検出器の空間分解能の測定

Author (9)： HUBBELING L (CERN, Geneva, CHE) ,  WEILHAMMER P (CERN, Geneva, CHE) ,  BRENNER R (Univ. Helsinki, FIN) ,  TUUVA T (Univ. Helsinki, FIN) ,  DULINSKI W (LEPSI, ULP-IN2P, Strasbourg, FRA) ,  TURCHETTA R (LEPSI, ULP-IN2P, Strasbourg, FRA) ,  CHAUVEAU J (Univ., Paris VI, FRA) ,  AVSET B S (S.I., Oslo, NOR) ,  EVENSEN L (S.I., Oslo, NOR)
Material： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nucl Instrum Methods Phys Res Sect A Accel Spectrometers Detect Assoc)
Volume： 310  Issue： 1/2  Page： 197-202  Publication year： Dec. 01, 1991 
JST Material Number： D0208B  ISSN： 0168-9002  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： Si semiconductor detector ,...

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JST classification (1)： Radiation detection and detectors  (AD08020J)

Terms in the title (4)： 両面 ,  Ac ,  マイクロストリップ検出器 ,  空間分解能