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J-GLOBAL ID：200902067106670187   Reference number：87A0235300

Surface studies with the scanning tunneling microscope.

走査トンネル顕微鏡による表面研究

Author (3)： TROMP R M (IBM Thomas J, Watson Research Center, NY, USA) ,  HAMERS R J (IBM Thomas J, Watson Research Center, NY, USA) ,  DEMUTH J E (IBM Thomas J, Watson Research Center, NY, USA)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 56  Issue： 2  Page： 199-205  Publication year： Feb. 1987 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： surface structure ,...
Semi thesaurus term： scanning tunneling microscopy ,...

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JST classification (2)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (15)：

• 1) G. Binnig, H. Rohrer, C. Gerber and E. Weibel: Phys. Rev. Lett. 50 (1983) 120.
• 2) Proc. the First Int. Workshop on STM, 1985, IBM J. Res. & Dev. 30 (1986) No. 4 and 5.
• 3) J. E. Demuth, R. J. Hamers, R. M. Tromp, and M. E. Welland: Vac. Sci. & Technol. A4 (1986) 1320.
• 4) R. J. Hamers, R. M. Tromp and J. E. Demuth: Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 1972.
• 5) R. M. Tromp, R. J. Hamers and J. E. Demuth: Science 234 (1986) 304.

Terms in the title (2)： 走査トンネル顕微鏡 ,  研究