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J-GLOBAL ID：200902072241227327   Reference number：93A0268843

A study of contamination levels measurement techniques, testing methods, and switching results for silicon compounds on silver arcing contacts.

銀接点上のけい素化合物の汚損レベルの測定,試験法,および開閉結果

Author (2)： WITTER G J (Chugai USA, Inc., Illinois) ,  LEIPER R A (Chugai USA, Inc., Illinois)
Material： Proceedings of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts  (IEEE Holm Conference on Electrical Contacts)
Volume： 38th  Page： 173-180  Publication year： 1992 
JST Material Number： E0462C  ISSN： 1062-6808  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： electric contact ,...

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JST classification (1)： Electric contacts  (NA05070V)

Terms in the title (4)： 銀 ,  けい素化合物 ,  汚損 ,  試験法