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J-GLOBAL ID：200902074263193089   Reference number：81A0182348

Specimen backings for proton-induced X-ray emission analysis.

陽子励起X線分光分析のための試料保持法

Author (4)： RUSSELL S B (Univ. Guelph, Canada) ,  SCHULTE C W (Univ. Guelph, Canada) ,  FAIQ S (Univ. Guelph, Canada) ,  CAMPBELL J L (Univ. Guelph, Canada)
Material： Analytical Chemistry  (Anal Chem)
Volume： 53  Issue： 3  Page： 571-574  Publication year： Mar. 1981 
JST Material Number： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： proton irradiation ,...

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JST classification (2)： Analytical instruments  (CC02020S) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Terms in the title (4)： 陽子 ,  励起 ,  X線分光分析 ,  試料