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J-GLOBAL ID：200902075110925826   Reference number：89A0230838

Determination of trace amounts of uranium and thorium in silicon and silicon dioxide by electrothermal vaporization/ICPMS.

電熱気化/誘導結合プラズマ質量分析法によるケイ素及び二酸化ケイ素中の超微量ウラン及びトリウムの定量

Author (3)： MATSUNAGA HIDEKI (東芝 総研) ,  HIRATE NAOYUKI (東芝 総研) ,  NISHIKIDA KOICHI (パーキンエルマージャパン)
Material： 分析化学
Volume： 38  Issue： 2  Page： T21-T25  Publication year： Feb. 1989 
JST Material Number： F0008A  ISSN： 0525-1931  CODEN： BNSKAK  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： uranium ,...

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JST classification (1)： Physical analysis of elements in inorganic substances  (CC03022H)

Reference (10)：

• 1) Timothy G. May, Murray H. Woods : 日経エレクトロニクス, No.200,123(1978-11-27).
• 2) 工藤 洌, 重松俊男, 米沢洋樹, 小林健二 : 通研研究実用化報告, 30(8), 2093(1981).
• 3) V. A. Fassel, R. K. Kniseley : Anal. Chem., 46, 1110A (1974).
• 4) 飯利茂雄, 岡田 章 : 第45回分析化学討論会講演要旨集, p.29(1984).
• 5) 土井 紘, 槌本道子 : 電子通信学会, 半導体材料部門全国大会講演要旨集, No.66(1981).

Terms in the title (7)： 電熱気化 ,  誘導結合プラズマ質量分析法 ,  ケイ素 ,  二酸化ケイ素 ,  ウラン ,  トリウム ,  定量