Art

J-GLOBAL ID：200902076668380890   Reference number：85A0011380

S-shaped reliability growth modeling for software error detection.

ソフトウエアの誤りを発見するためのS字形信頼性成長モデル化

Author (3)： YAMADA S (Okayama Univ. Science) ,  OHBA M (IBM Japan Ltd., Tokyo) ,  OSAKI S (Hiroshima Univ.)
Material： IEEE Transactions on Reliability  (IEEE Trans Reliab)
Volume： 32  Issue： 5  Page： 475-478,484  Publication year： Dec. 1983 
JST Material Number： C0448A  ISSN： 0018-9529  CODEN： IERQAD  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： reliability analysis ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=85A0011380&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0448A") }}

JST classification (1)： System programmings in general  (JD03010Y)

Terms in the title (5)： ソフトウエア ,  誤り ,  発見 ,  信頼性成長 ,  モデル化