Art

J-GLOBAL ID：200902080735426813   Reference number：88A0588026

Preparation of TEM specimen by chemical etching in Bi-Sr-Ca-Cu-O superconductors.

化学研磨法によるBi系超伝導体の電子顕微鏡試料作成法

Author (3)： TAKAHASHI YUTAKA (東大 生産技研) ,  MORI MINORU (東大 生産技研) ,  ISHIDA YOICHI (東大 生産技研)
Material： 生産研究  (Journal of Institute of Industrial Science, the University of Tokyo)
Volume： 40  Issue： 8  Page： 18-21  Publication year： Aug. 1988 
JST Material Number： G0185A  ISSN： 0037-105X  CODEN： SEKEAI  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： superconductor ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=88A0588026&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0185A") }}

JST classification (1)： 超伝導状態の性質一般【’81~’92】  (BM04020J)

Terms in the title (5)： 化学研磨 ,  Bi ,  超伝導体 ,  電子顕微鏡 ,  試料作成