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J-GLOBAL ID：200902082887979683   Reference number：89A0268231

XPS Analysis of Au ultra-thin film on a Si mono-crystal.

Si単結晶上のAu超薄膜のXPS分析

Author (4)： SUETSUGU MASAHIRO (日本大 理工) ,  NIKAMI TOMOJI (日本大 大学院) ,  YAMAMOTO HIROSHI (日本大 理工) ,  TANAKA SHOICHI (日本大 理工)
Material： 日本大学理工学部学術講演会講演論文集
Volume： 32nd  Page： 83-84  Publication year： 1988 
JST Material Number： G0609B  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： metal-semiconductor junction ,...

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JST classification (2)： 半導体-金属接触【’81~’92】  (BM03073E) ,  Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Terms in the title (4)： Si単結晶 ,  Au ,  超薄膜 ,  XPS分析