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J-GLOBAL ID：200902082907342075   Reference number：86A0163536

Au/Si(111) overlayer: Characterization by tunneling microscopy and spectroscopy.

Au/Si(111)蒸着層 トンネル顕微鏡,トンネル分光による研究

Author (4)： SALVAN F (Univ. Aix-Marseille II, France) ,  FUCHS H (IBM, Switzerland) ,  BARATOFF A (IBM, Switzerland) ,  BINNIG G (IBM, Switzerland)
Material： Surface Science  (Surface Science Letters)
Volume： 162  Issue： 1/3  Page： 634-639  Publication year： Oct. 1985 
JST Material Number： C0129B  ISSN： 0039-6028  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： Gold ,...

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JST classification (2)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A) ,  半導体-金属接触【’81~’92】  (BM03073E)

Terms in the title (7)： Au ,  Si ,  蒸着 ,  トンネル ,  顕微鏡 ,  トンネル分光 ,  研究