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J-GLOBAL ID：200902093142940191   Reference number：86A0259647

Rietveld analysis and simulation of X-ray powder diffraction patterns.

粉末X線回折図形のRietveld解析とシミュレーション

Author (1)： IZUMI FUJIO (無機材質研)
Material： X線分析の進歩  (X線工業分析)
Volume： 14  Page： 43-56  Publication year： Apr. 1983 
JST Material Number： Z0547B  ISSN： 0911-7806  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： X-Ray Diffraction ,...

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JST classification (1)： X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Terms in the title (4)： 粉末 ,  X線回折図形 ,  Rietveld解析 ,  シミュレーション