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J-GLOBAL ID：200902094121077007   Reference number：85A0387802

Model-independent structure determination of the InSb(111)2×2 surface with use of synchrotron X-ray diffraction.

シンクロトロンX線回折を用いたInSb(111)2×2表面のモデルによらない構造決定

Author (6)： BOHR J (Riso National Lab., Denmark) ,  FEIDENHANS'L R (Riso National Lab., Denmark) ,  NIELSEN M (Riso National Lab., Denmark) ,  TONEY M (Riso National Lab., Denmark) ,  JOHNSON R L (Max Planck Inst. Festkoerperforschung, Federal Republic of Germany) ,  ROBINSON I K (AT&T, New Jersey)
Material： Physical Review Letters  (Phys Rev Lett)
Volume： 54  Issue： 12  Page： 1275-1278  Publication year： Mar. 25, 1985 
JST Material Number： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： surface structure ,...

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JST classification (2)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A) ,  X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Terms in the title (3)： シンクロトロンX線回折 ,  InSb ,  モデル