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J-GLOBAL ID：200902098297001932   Reference number：92A0005673

Decay processes of core-excited molecules as studied by Auger-electron-photoion coincidence measurement. I. SF₆.

オージェ電子・光イオンコインシデンス法を用いた内殻励起分子の崩壊過程の研究. I. SF₆

Author (6)： SATO YUKINORI (東北大) ,  UEDA KIYOSHI (東北大) ,  CHIBA HISASHI (東北大) ,  HAYAISHI TATSUJI (筑波大) ,  SHIGEMASA EIJI (高エネルギー物理研) ,  YAGISHITA AKIRA (高エネルギー物理研)
Material： 日本物理学会講演概要集(年会)  (日本物理学会年会予稿集)
Volume： 46th  Issue： 4  Page： 57  Publication year： Sep. 1991 
JST Material Number： S0671A  ISSN： 1342-8349  Document type： Proceedings
Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Terms in the title (6)： オージェ電子 ,  内殻励起 ,  分子 ,  崩壊過程 ,  研究 ,  SF6