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J-GLOBAL ID：200902101228656243   Reference number：96A0590741

An experimental chip to evaluate test techniques experiment results.

テスト技術評価用実験チップ 実験結果

Author (3)： MA S C (Stanford Univ., CA) ,  FRANCO P (Stanford Univ., CA) ,  MCCLUSKEY E J (Stanford Univ., CA)
Material： Proceedings. International Test Conference  (Proc Int Test Conf)
Volume： 1995  Page： 663-672  Publication year： 1995 
JST Material Number： E0211B  ISSN： 1089-3539  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： combinational circuit ,...

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JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Digital computer hardwares in general  (JC04010C)

Terms in the title (4)： テスト ,  評価 ,  実験 ,  実験結果