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J-GLOBAL ID：200902101620156313   Reference number：97A0823459

Negative Ion Density Determination Using Probe to Detect Photo-Detached Electron by Continuous Wave Laser.

連続レーザによる光脱離電子を検出するためのプローブを用いた負イオン密度の決定

Author (3)： MAEDA M (Musashi Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  HIGUCHI K (Musashi Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  MATSUMURA S (Musashi Inst. Technol., Tokyo, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers)
Volume： 36  Issue： 7B  Page： 4656-4658  Publication year： Jul. 1997 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： anion ,...
Semi thesaurus term： positive electrode ,...

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JST classification (1)： Plasma diagnostics  (BJ02090L)

Reference (6)：

• 1) H. Amemiya, T. Suzuki and Y. Shigeoka: Jpn. J. Appl. Phys. 29 (1990) L1915.
• 2) H. Amemiya and T. Suzuki: Jpn. J. Appl. Phys. 30 (1991) 1985.
• 3) M. Matsuyama, A. Hirosawa and S. Matsumura: Jpn. J. Appl. Phys. 33 (1994) 4312
• 4) P. A. Chatterton, J. A. Rees, W. L. Wu and K. AI-Assadi: Vacuum 42 (1991) 489.
• 5) S. Ono, A. Suzuki, and J. S. Chang: Proc. ISPC-9, Pugnochiuso, Italy, 1989, Vol. 1, p. 174.

Terms in the title (5)： 連続レーザ ,  光脱離 ,  電子 ,  プローブ ,  イオン密度