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J-GLOBAL ID：200902101804931832   Reference number：02A0780965

An automated glitch-detection/restoration method of atomic force microscope images.

原子間力顕微鏡像の自動化グリッチ検出/修復法

Author (8)： HYON C (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  OH S (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  KIM H (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  SULL S (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  HWANG S (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  AHN D (Univ. Seoul, Seoul, KOR) ,  PARK Y (Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR) ,  KIM E (Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
Material： Review of Scientific Instruments  (Rev Sci Instrum)
Volume： 73  Issue： 9  Page： 3245-3250  Publication year： Sep. 2002 
JST Material Number： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,...

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JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Optical information processing  (BD03060T)

Terms in the title (4)： 原子間力顕微鏡 ,  自動化 ,  グリッチ ,  修復