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J-GLOBAL ID：200902105404885675   Reference number：98A0596576

On the Retention Time Distribution of Dynamic Random Access Memory(DRAM).

ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)の保持時間分布

Author (3)： HAMAMOTO T (Toshiba Corp., Yokohama, JPN) ,  SUGIURA S (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN) ,  SAWADA S (Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
Material： IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Trans Electron Devices)
Volume： 45  Issue： 6  Page： 1300-1309  Publication year： Jun. 1998 
JST Material Number： C0222A  ISSN： 0018-9383  CODEN： IETDAI  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *DRAM ,...

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JST classification (1)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T)

Terms in the title (3)： ダイナミックランダムアクセスメモリ ,  DRAM ,  時間分布