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J-GLOBAL ID：200902105885875732   Reference number：93A0271873

Element-Specific Magnetic Microscopy with Circularly Polarized X-rays.

Author (8)： STOEHR J (IBM Research Division, CA) ,  WU Y (IBM Research Division, CA) ,  HERMSMEIER B D (IBM San Jose, CA) ,  SAMANT M G (IBM Research Division, CA) ,  HARP G R (IBM Research Division, CA) ,  KORANDA S (Univ. Wisconsin-Madison, WI) ,  DUNHAM D (Univ. Wisconsin-Madison, WI) ,  TONNER B P (Univ. Wisconsin-Madison, WI)
Material： Science
Volume： 259  Issue： 5095  Page： 658-661  Publication year： Jan. 29, 1993 
JST Material Number： E0078A  ISSN： 0036-8075  CODEN： SCIEA  Document type： Article
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)