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J-GLOBAL ID：200902106680814737   Reference number：01A0964196

MWP-fit: A program for multiple whole-profile fitting of diffraction peak profiles by ab initio theoretical functions.

MWP-fit ab initio理論関数によって回折ピークプロファイルを多重全プロファイル適合させるためのプログラム

Author (3)： RIBARIK G (Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN) ,  UNGAR T (Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN) ,  GUBICZA J (Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN)
Material： Journal of Applied Crystallography  (J Appl Crystallogr)
Volume： 34  Issue： 5  Page： 669-676  Publication year： Oct. 2001 
JST Material Number： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *ab initio method ,...

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JST classification (1)： Structure determination and diffraction crystallography in general  (BK01010X)

Terms in the title (6)： FIT ,  理論 ,  関数 ,  回折 ,  プロファイル ,  多重