Art

J-GLOBAL ID：200902109219516200   Reference number：95A0383164

Measurement of the thickness of fundus layers by partial coherence tomography.

部分的なコヒーレンスのトモグラフィーによる眼底層の厚さの測定

Author (4)： DREXLER W (Univ. Wien, Vienna, AUT) ,  HITZENBERGER C K (Univ. Wien, Vienna, AUT) ,  SATTMANN H (Univ. Wien, Vienna, AUT) ,  FERCHER A F (Univ. Wien, Vienna, AUT)
Material： Optical Engineering  (Opt Eng)
Volume： 34  Issue： 3  Page： 701-710  Publication year： Mar. 1995 
JST Material Number： B0577B  ISSN： 0091-3286  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： partial coherent light ,...

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JST classification (2)： Interferometry and interferometers  (BD07070G) ,  Biometry  (EL03020C)

Terms in the title (5)： コヒーレンス ,  トモグラフィー ,  眼 ,  底層 ,  厚さ