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J-GLOBAL ID：200902109226573392   Reference number：02A0951275

Sequential Pattern Learning based on Test Feature Classifier.

テスト特徴法に基づく逐次パタン学習

Author (4)： SAKATA YUKINOBU (北大 大学院工学研究科) ,  KANEKO SHUN'ICHI (北大 大学院工学研究科) ,  TAKAGI YUJI (日立 生産技研) ,  OKUDA HIROHITO (日立 生産技研)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 102  Issue： 381(NC2002 44-54)  Page： 25-30  Publication year： Oct. 17, 2002 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *inductive learning ,...
Semi thesaurus term： テスト特徴法 ,...

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JST classification (2)： Artificial intelligence  (JE08000Z) ,  Pattern recognition  (JE07000S)

Terms in the title (4)： テスト ,  逐次 ,  パタン ,  学習