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J-GLOBAL ID：200902109655392169   Reference number：01A0728562

局所方位解析技術を活かした材料組織制御の新展開 EBSP法の基本原理と最近のナノビーム化の利点

Author (1)： SUZUKI SEIICHI (テクセムラボラトリーズ)
Material： まてりあ  (Materia Japan)
Volume： 40  Issue： 7  Page： 612-616  Publication year： Jul. 20, 2001 
JST Material Number： F0163A  ISSN： 1340-2625  CODEN： MTERE2  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *electron diffraction ,...
Semi thesaurus term： EBSP ,...

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JST classification (1)： Electron diffraction methods  (BK01030T)

Reference (9)：

• ADARNUS, B. L. Metall. Trans. A. 1993, 24A, 819
• COATES, D. G. Philos. Mag. 1969, 16, 1179
• 井口征夫. 日本金属学会誌. 1986, 50, 874
• SCHWARTZ, A. J. Electron Backscatter Diffraction in Material Science. 2000
• 梅澤修. 軽金属. 2000, 50, 86

Terms in the title (8)： 方位 ,  解析 ,  組織制御 ,  展開 ,  EBSP法 ,  原理 ,  ナノビーム ,  利点