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J-GLOBAL ID：200902110077967127   Reference number：01A0519781

Resonance frequency and Q factor mapping by ultrasonic atomic force microscopy.

超音波原子間力顕微鏡による共振周波数とQ因子のマッピング

Author (4)： YAMANAKA K (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MARUYAMA Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TSUJI T (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  NAKAMOTO K (JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 78  Issue： 13  Page： 1939-1941  Publication year： Mar. 26, 2001 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,...
Semi thesaurus term： UAFM ,...

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JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (5)： 超音波 ,  原子間力顕微鏡 ,  共振周波数 ,  Q因子 ,  マッピング